☆Plextools Professional

PlexTools ProfessionalではPIE、POF、POE、POF、Jitter、Beta、PeakShift等、非常に多くの計測が行なえます。
このツールはPlextor様の丁寧かつ詳細なマニュアルが付属していますし、
特に記載の必要は無いような気もするんですが……
どうもああいうマニュアルの類にはアレルギーを起こす人がいるみたいなんで一応、各計測についてまとめてみました。
無料のソフトではありませんので、「どこで手に入るか」などと聞かないように。

PI/PO 8ECC SUM Test
PI/PO 1ECC SUM Test
PI/PO Basic Test
PI/PO Burst Test
Beta/Jitter Test
TA Test


[PI/PO SUM8ECC Test]

 PIEとPOFを8ECC毎に計測するテストです。
 一般に一番多く用いられる計測方法でしょう。
 ディスク全体のエラーの発生量と、修復不能エラーがわかります。

@. 測定に使用するドライブを選びましょう。
  (1台のPCにプレク製ドライブを何台も積んでる趣味人は少ない気もしますが)

A. まずはPI/POテストを行いますので、ここを選んでください。

B. PIEとPIFを計測するためには、「SUM8 Test」を選択します。

C.ここを押して測定を開始します。

D.グラフの表示などの設定が行えます。表示範囲の設定は必須ですよ。



E. グラフの表示範囲を設定します。
  なるべくキリの良い数字で、できるだけPIEの最大値に近い値を選びましょう。

F. 表示容量の設定です。2層メディアを計測する時は10GBに設定します。

G. 測定の速度を設定します。とはいえ、読み込み速度は2xで固定ですので、データを間引いて測定することになります。
  速度1だと片面1層をフルに計測するのに約30分かかりますから、速度2〜3あたりが実用的でしょう。







[PI/PO SUM1ECC Test]

 PIFとPOFを1ECC毎に計測するテストです。
 8ECC TestではPI Falureが計測できませんので、kprobe等のグラフと比較する際にはこれが役立ちます。

H.今度は「SUM1 Test」を選びましょう。PIFは品質基準に従って、1ECC毎に表示されます。




[PI/PO Basic Test]

 PIEとPOFを1ECC毎に計測する、いわばLITE-ON製ROMドライブ+kprobeライクな計測方法です。
 他と決定的に違うのはROWごとではなくバイト数を計測している為、ディスク上にどれだけのエラーが存在するのかハッキリと確認することができます。

I. Basic Testを選びましょう。左の表記がbytes/1ECCに変わったのが判るかと思います。






[PI/PO Burst Test]

 固まったPOEエラーを計測することができます。
 実は8ECC計測の機能を備えてたり。

J.今度は「Burst Test」に合わせましょう。




このPOEって一体何なんでしょうね。POEって言うからにはPO修復可能エラーのことなんでしょうが…
DVD規格上でも詳しく定められておらん値なので、どういう基準なのかは不明です。
PLEXTOR様にお尋ねしてもマニュアルに掲載されていた以上の詳しい事は教えてくれませんでしたし。
誰か知ってる人いたら情報頂けると有難いです。


[Beta/Jitter Test]

 ピットとランドの均整を見る「Beta」と、ピットの時間軸方向へのブレを計測する「Jitter」を計測できます。
 他のディスクとの比較ができないらしいんですが、そのディスク内でどこが悪いのかが判ります。
 Betaでレーザーの照射状態が判るわけですから、どこに焼きムラができてるのか等が一発でわかります。
 VariRecを極める時なんかにも便利ですね。

K.Q-Check Beta/Jitter Testを選択しましょう。





[TA Test]

 『究極』としてはこんな感じのグラフになります。

(自分でやっといて何だけど……まずありえません)
要は、この10種類の信号がどれだけあやふやになってしまっているかを調べるのがTA Testです。
3Tよりもちょっと大きかったり短かったりと……小数点以下(ならいいんですが)のバラツキが発生し、
下のような山形になるわけです。
PI/POをエラーへのデジタル面からのアプローチと考えると、TA Testはいわば
記録面の状態への物理的なアプローチです。
各信号の見分けがつかないといけませんので、山同士がくっついていると非常にマズいです。

L.TA Testを選びましょう。内周、中周、外周を別々にテストを行います。
  開始十数秒で計測は終了します。


ちなみに、PTPは計測終了後、ディスクを抜いても他のテストを行っても、次の計測までグラフは消えません。

ここまでのFAQ
[Q]:検証に非常に時間がかかるんですが。

[A]:2x CLV計測を行なっているため、かなり時間がかかります。

[Q]:読み込み速度を速くしても遅いままです。なんとかしてください。

[A]:PI/POテストを開始すると速度設定は2倍に戻ります。
  計測中に強引に変更すれば高速での計測も可能ですが、精度の保証は致しません。
  素直に速度設定で間引きましょう。


[Q]:PIEとPIF、Jitterは同時に計測できませんか。


[A]:できません。

[Q]:PIEはとても低いのに、TA TestをやるとBadが出るんですが。

[A]:Beta/Jitterテストにかけてみましょう。きっと本性を現します。